- LED光源主要类型
- 发布时间：2007/12/27 9:54:15 修改时间：2007/12/27 9:54:15 浏览次数：5330
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沐光方式（直接型） 聚光方式（直接型） 低角度方式（直接型） 高密度光输出，产生鲜明逼真的图像
LDR 系列
采用CCS 独创的柔性板，高密度的LED 阵列排列在伞状结构中，在照明光源中心区域高度集中的光亮，这是LED 照明光源系统的标准模式。此种结构已被广泛的应用。- 检测IC 芯片上的印刷字符
- 检测印刷电路板上的零件
- 检测塑料盖上的污点
- 标签检测
SQR 系列- 检测液晶玻璃基板的标记
线型，聚光照明
LN 系列
结合圆柱形透镜，此照明光源系统可产生高强度的直线形光条。- 检测树脂产品z检测连接器
- 检测胶片和纸张
模块边缘、光滑表面的划痕检测
LDR-LA 系列
采用柔性板，创出最佳的倾斜角度。低角度的照明光源是边缘检测、金属表面的刻印和损伤检测的理想选择。- 读取发动机部件上的刻印标记
- 晶片损伤检测
- BGA 的焊点位置和面积检测
LDR-LA-1 系列
10mm 的超薄设计。- 玻璃基板、晶片的伤痕、脏污检测
- 读取刻印字符
- BGA 焊接球位置和面积测试
条形方式（直接型） 低角度方式（间接型） 扁平环状方式（间接型） 高密度的LED 阵列置于紧凑的、框形斜射光照明单元中
LDL/LDQ 系列
照明光源角度几乎可被自由地设成任意角度。LDQ 系列中，四面的每个角度都可被独立设置。- 液晶文字检测z检测小型LCD 面板
- 标签检测
- 陶制品的外部和裂缝检测
- 金属板表面检测
- QFP、SOP 检测
均匀照明反光工作界面
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FPR/FPQ 系列
独创的光线导向技术用于非常均匀的照明表面。扩散的光线以低角度均匀地照射在物体表面上。FPQ 系列提供矩形矩阵的超薄照明光源。- BGA 焊接球位置和面积测试
- 塑料瓶盖外侧、铝罐头底部检测
- 高尔夫球的脏污检测
- SOP，CSP 封装的字符检测
- QFP，SOP 等的触角、外观检测
- 检测PC 母板的模式
平滑、扩散的顶点光
LFR/ LKR / LAV-80 系列
薄环照明光源系统只有12mm 厚，LFR 系列是顶部均匀照射光源。LKR 系列是圆锥形的照明光源，可对被测物体的任何角度进行照射。- 检测IC 芯片上的印刷字符
- 检测电路板元件
- 晶片外形检测（背光）
- 检测橡胶类制品或焊接检测
- 封盖标记、内侧、底部脏污检测
- 检测镜头表面上的细小裂痕和碎屑
- 检测液晶玻璃基板的标记
圆形方式（间接型） 背光方式（透射型） 线条方式（透射型） 用于表面光滑的曲面检测
LDM2/PDM系列
散射的照明光可以对即使弯曲的金属表面进行均匀的照射。- 适合不平坦的光滑表面上文字的检测
- 适合各种方向的均匀照明
- 对罐头底部的标记进行检测
用于轮廓检测
LDL-TP/LDL/ LFL 系列
用高密度LED 阵列面提供高强度背光照明。- 电子元件的外部检测
- 检测透明底片等的污
- SOP，CSP 检测
- 液晶文字检测
- 检测小型电子元件的尺寸和外形
- 轴承的外观、尺寸检测
- 半导体导线框的外观尺寸检测
线形传感器的最佳照明
LND 系列
提供均匀照明。高亮度H 系列比标准A 系列亮度高两倍。- 包装破损检测
- LCD 破损检测
- 膨胀胶片破损检测
- 遮蔽胶带破损检测
- 伸展胶片破损检测
- 迭片结构破损检测
- 液晶部件检测
同轴方式（同轴型） 平行光光学单元（特殊型） 多用途照明光源（特殊型） 均匀照明反光工作界面
LFV/LFV2/FV-CP/LFV-5/LNV-300系列
照明的光线同镜头视线呈同一轴向；同轴落射照明用于线形传感器，用于具有高反射性镜面的工作模块。- 金属、玻璃等光泽面的伤痕检测
- 印刷、电路板的模式检测
- 芯片和硅晶片的破损检测
- 瓶口的裂缝和碎片检测
- 检测玻璃电路板的表面伤痕
检测反光物体表面的划痕、凹痕和污渍
MSU 系列
检测镜面的突起、划痕和凹痕。通过特殊透镜产生平行光。有10mm、30mm 和130mm 三种视场规格。- 检测如CD 和晶片等表面反光的物体上细小的划痕和凹陷
- 读取二维代码
- 检测光泽金属表面的毛刺和扭曲
按特殊要求设计定制
CMR 系列/LV/LMR/MAC-13XA
特殊照明系统，如体视显微镜照明光源，以及用于超小尺寸工作模块检测的高倍率镜头和其它专用照明。满足用于具有高亮度要求的线性扫描检测
HLND系列
系列迄今为止最高亮，性能最佳的新一代线性照明
