- kokusaikagaku sft-9455 荧光X射线膜厚计
- 发布时间：2017/6/30 17:15:25 修改时间：2017/6/30 17:16:12 浏览次数：417
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kokusaikagaku sft-9455 荧光X射线膜厚计
具备正比计数管和半导体检测器两个检测器。X射线管电压50 KV、X射线管电流1.5毫安和高功率。
选择应用程序选择画面。
1 .定性分析：钛更重的物质的定性分析，强度测定等进行。
第2 .测定法：用制作食谱，镀金膜厚度和成分的自动测量、自动结果
输出等输出。
3 .散装基本参数：电镀液，合金、粉等的成分比测定基本参数法进行。
4 .散装标准曲线：电镀液，合金、粉等的成分比例测量标准曲线法进行。
5 .薄膜基本参数：镀金膜厚测定基本参数法进行。
6点薄膜标准曲线：镀金膜厚测量标准曲线法进行。
7 .维修：测量头测试，稳定度试验，校准标准值登记，校准值图表显示等
在，有。
8点数据处理：测量结果Excel等在处理时使用。
（选项设定）也有这样的应用。
是校准用X射线的屏幕。
正比计数管分辨率是Ni 1.24 keV，锡（Sn）2.06 keV良好。顺便说一下，由于制造厂的定期检查时的基准值Ni 1.4 keV，锡（Sn）2.3 keV以下。
X射线管的使用时间5987.9时间（2017年1月22日为止），制造商的推荐更换时间
10000小时的6成弱。
样品画面（标准）。
试样画面100% 75% 50%的50%的转换可能。
XYZ轴全部鼠标操作。另外，用轻快的速度动作。
样品画面（放大1）。
样品画面（放大2）。
样品画面（扩大3）。
为一个自动对焦的激光光。
半导体探测测量的Cu光谱。α射线和Kβ可以分开测量
Au / Ni / Cu 10秒，100次的测量结果。
使用检测器：正比计数管
科里：
管电压：50 kV
管电流：1500μ
不过滤使用（非）
使用用途：薄膜标准曲线
平均值，标准偏差，CV值等。
