图象处理专用光源主要类型_光源_机器视觉_智能控制_供应

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图象处理专用光源主要类型
发布时间：2008/1/23 12:39:48 修改时间：2008/1/23 12:39:48 浏览次数：2175

沐光方式（直接型）	聚光方式（直接型）	低角度方式（直接型）
高密度光输出，产生鲜明逼真的图像　 LDR 系列　　采用CCS 独创的柔性板，高密度的LED 阵列排列在伞状结构中，在照明光源中心区域高度集中的光亮，这是LED 照明光源系统的标准模式。此种结构已被广泛的应用。检测IC 芯片上的印刷字符检测印刷电路板上的零件检测塑料盖上的污点标签检测 SQR 系列检测液晶玻璃基板的标记	线型，聚光照明　 LN 系列　　结合圆柱形透镜，此照明光源系统可产生高强度的直线形光条。检测树脂产品z检测连接器检测胶片和纸张	模块边缘、光滑表面的划痕检测　 LDR-LA 系列　　采用柔性板，创出最佳的倾斜角度。低角度的照明光源是边缘检测、金属表面的刻印和损伤检测的理想选择。读取发动机部件上的刻印标记晶片损伤检测 BGA 的焊点位置和面积检测 LDR-LA-1 系列　　10mm 的超薄设计。玻璃基板、晶片的伤痕、脏污检测读取刻印字符 BGA 焊接球位置和面积测试
条形方式（直接型）	低角度方式（间接型）	扁平环状方式（间接型）
高密度的LED 阵列置于紧凑的、框形斜射光照明单元中　 LDL/LDQ 系列　　照明光源角度几乎可被自由地设成任意角度。LDQ 系列中，四面的每个角度都可被独立设置。液晶文字检测z检测小型LCD 面板标签检测陶制品的外部和裂缝检测金属板表面检测 QFP、SOP 检测	均匀照明反光工作界面　 FPR/FPQ 系列　　独创的光线导向技术用于非常均匀的照明表面。扩散的光线以低角度均匀地照射在物体表面上。FPQ 系列提供矩形矩阵的超薄照明光源。 BGA 焊接球位置和面积测试塑料瓶盖外侧、铝罐头底部检测高尔夫球的脏污检测 SOP，CSP 封装的字符检测 QFP，SOP 等的触角、外观检测检测PC 母板的模式	平滑、扩散的顶点光　 LFR/ LKR / LAV-80 系列　　薄环照明光源系统只有12mm 厚，LFR 系列是顶部均匀照射光源。LKR 系列是圆锥形的照明光源，可对被测物体的任何角度进行照射。检测IC 芯片上的印刷字符检测电路板元件晶片外形检测（背光）检测橡胶类制品或焊接检测封盖标记、内侧、底部脏污检测检测镜头表面上的细小裂痕和碎屑检测液晶玻璃基板的标记
圆形方式（间接型）	背光方式（透射型）	线条方式（透射型）
用于表面光滑的曲面检测　 LDM2/PDM系列　　散射的照明光可以对即使弯曲的金属表面进行均匀的照射。适合不平坦的光滑表面上文字的检测适合各种方向的均匀照明对罐头底部的标记进行检测	用于轮廓检测　 LDL-TP/LDL/ LFL 系列　　用高密度LED 阵列面提供高强度背光照明。电子元件的外部检测检测透明底片等的污 SOP，CSP 检测液晶文字检测检测小型电子元件的尺寸和外形轴承的外观、尺寸检测半导体导线框的外观尺寸检测	线形传感器的最佳照明　 LND 系列　　提供均匀照明。高亮度H 系列比标准A 系列亮度高两倍。包装破损检测 LCD 破损检测膨胀胶片破损检测遮蔽胶带破损检测伸展胶片破损检测迭片结构破损检测液晶部件检测
同轴方式（同轴型）	平行光光学单元（特殊型）	多用途照明光源（特殊型）
均匀照明反光工作界面　 LFV/LFV2/FV-CP/LFV-5/LNV-300系列　　照明的光线同镜头视线呈同一轴向；同轴落射照明用于线形传感器，用于具有高反射性镜面的工作模块。金属、玻璃等光泽面的伤痕检测印刷、电路板的模式检测芯片和硅晶片的破损检测瓶口的裂缝和碎片检测检测玻璃电路板的表面伤痕	检测反光物体表面的划痕、凹痕和污渍　 MSU 系列　　检测镜面的突起、划痕和凹痕。通过特殊透镜产生平行光。有10mm、30mm 和130mm 三种视场规格。检测如CD 和晶片等表面反光的物体上细小的划痕和凹陷读取二维代码检测光泽金属表面的毛刺和扭曲	按特殊要求设计定制　　 CMR 系列/LV/LMR/MAC-13XA 　　特殊照明系统，如体视显微镜照明光源，以及用于超小尺寸工作模块检测的高倍率镜头和其它专用照明。

满足用于具有高亮度要求的线性扫描检测　 HLND系列　　系列迄今为止最高亮，性能最佳的新一代线性照明点赞 0 反对 0 举报 0 收藏 0 评论 0 分享 0 联系方式在线交谈发送信件拨打电话地图导航公司:中国大恒（集团）有限公司北京图像视觉技术分公司电话:010-82828878 传真:010-82563343 姓名:大恒图像(先生) 职位:负责人地区:江苏-苏州市地址:海淀区苏州街3号大恒科技大厦北座12层