NSG3040Teseq NSG3040 EMC测试主机

NSG3040Teseq NSG3040 EMC测试主机

特测（Teseq）推出的NSG3040是Teseq公司新推出的一台用于在抗扰度测试中模拟电磁干扰影响的发生器，它操作简便、具有多种功能，满足企业、国内和国际标准的要求（包括最新的EC／EN标准）。NSG3040采用了新的Teseq设计理念，使得特测的多功能发生器产品系列更加完整。这种创新的设计基于模块化结构，因而提供了一个多功能测试系统。该系统可以按照基本测试要求配置，也可扩展功能以满足需求多样的测试实验室的要求。NSG3040系统设计于满足用于CE标志测试的传导EMC测试需要，它一般包括组合波、EFT脉冲和PQT。强大的扩展能力使得该系统具有更广泛的应用范围。

  成熟、独特的“主—从”概念技术使得单个脉冲模块能够独立校准，并将校准资料和修正系数存储于从控制器上。新模块安装简便，无需返回整个系统进行校准。由于采用技术先进的组件，NSG3040在开关切换技术和相位精度方面建立了新的标准，并且超越了现行标准的要求。 因为采用了具有高质、对比度极佳的大型7”彩色触摸板显示，NSG3040的操作非常简便。既可以通过一体化键盘也可以用带有灵敏度调整键的滚轮来进行输入。此外，在开发环境下，通过内置的DTA功能（直接测试程序调用），几个“点击”就能激活标准测试，并能迅速、准确地得到结论性结果。 各参数值均为高度可视的，通过大的触摸输入键可以迅速选择并修改这些参数值。该操作不需要触控笔，测试参数可以迅速、简便地编辑出来。可以简便地进行多步骤测试程序的增加、程序次序及参数值的修改。选择“高级模式”后，用户可以在测试中使用滚轮进行手动参数修改—有效、迅速地简化激活关键阈值的方法。

通过易操作的SD读卡器可进行固件快速下载。可以完整的保存由用户指定的测试。在存储空间不够的特殊情况下，可用市场购买的SD记忆卡更换该记忆卡，而存放其中的测试文件可被轻松复制进更大内存的SD卡中。NSG3040具有以太网端口，可接受来自个人电脑的外部控制。Windows软件简化了测试程序并允许为各种类型的测试编写复杂的测试序列。在测试进程中，操作人员可以进行观察并在测试操作中生成测试报告，以此增加长期测试的效率。

模块化, 可扩展系统 *浪涌电压至4.4 kV *EFT/脉冲群至 4.8 kV/1 MHz *PQT 至 16 A/260 VAC & DC *7“ 彩色触摸屏方便使用 *DTA （直接测试程序调用）功能可快速测试解决方案 *NSG 3040脉冲群浪涌综合测试仪测试过程中可调节参数 *范围广泛的测试附件加在电源线和数据线上的瞬变脉冲、供电中断和电磁场经常会造成电子线路和设备出现故障。*抗扰度测试可以确保例行操作 中各个元件、仪器及系统的工作符合产品标准要求  NSG 用于CE应用的灵巧型4KV解决方案 该设备可进行以下测试 组合波脉冲1,2/50~8/20MS（组合浪涌脉冲）脉冲符合EC/EN 61000-4-5标准参数 值脉冲电压（开路） ±200V至4.4KV（以1V为步长）脉冲电流（短路） ±100A至2.2KA阻抗 2/12Ω极性 正/负/交替脉冲重复周期 10S至600S( 以1S为步长)测试时间 1至9999个脉冲，不间断相位同步 异步、同步0至359°（以1°为步长）耦合 外部/内部