牛津经典（日立分析仪器）X-Strata920

牛津经典（日立分析仪器）X-Strata920

基于X-Strata920配备的四种基座配置，您可以分析任何形状的部件样品。开槽式设计的标准固定台或加宽固定台既适用于小样品，也同样适用于细长样品，井深式样品室可灵活的应用于测量较高的样品，选择电动可编程样品台，则可自动测量多个样品或单个样品上的不同测量位置。日立主营EA1000AIII、EA1000VX、EA1200VX、EA1400VX、EA6000VX、EA8000VX、FT110A、X-Strata920、FT160、FT160s、FT160L。

X-Strata920兼具IPC-4552A合规性、市场领先的准确性和性价比以及最少的用户培训需求等优点。使用多点分析功能，可在单次测量中分析大样本区域，必要时，用户可返回特定点进行详细调查，X-Strata920不仅符合IPC-4552A的要求，还具有800多个预加载校准包，专门用于各种材料筛选应用以及易于选择的应用参数和方法。其操作灵活，准确性高，符合ASTMB568和ISO3497等国际测试方法。

日立X-Strata920X射线荧光镀层测厚仪

日立X-Strata920使用X射线荧光(XRF)进行的镀层厚度测量是经过证明的快速的无损分析技术，X-Strata920设计为面向电子产品和金属表面 处理，测量单层和多镀层(包括合金层)，应用专家对 X-Strata920 进行了进一步升级， 确保获得可靠、可重复结果，满足数百种应用，包括 PCB 表面处理、连接器镀层、耐腐蚀处理、装饰表面 处理、耐磨损处理、耐高温处理等。

X-Strata920X这一出色的工具可确保样品符合规格，同时通过避免过度电镀和返工来降低成本。操作员只需加载样品，将其定位在屏幕上的目标下方，使用激光焦点对齐，即可开始测量。结果在几秒内即可显示出来，然后操作员可快速执行下一个任务。得益于通过可追溯标准打造的优化校准方式，您将对结果的准确性充满信心。日本日立提供多种镀层厚度解决方案EA1000AIII、EA1000VX、EA1200VX、EA1400VX、EA6000VX、EA8000VX、FT110A、FT160、FT160s、X-Strata920）

使用X-Strata920可遵从各种行业规范，如IPC-4552A、ISO 3497、ASTM B568 和 DIN 50987。

日立FT160、FT160s、FT160L射线荧光镀层厚度测量仪

日立主营EA1000AIII、EA1000VX、EA1200VX、EA1400VX、EA6000VX、EA8000VX、FT110A、FT160、FT160s、X-Strata92，其中FT160系列产品,搭载了性能X射线管，实现了高精度的测定。FT110A极微小准直管和可变焦距光学系统的组合，实现了对极微小部分的测定。对有段差的样品也适用。

1. 高速测量：通过X射线检测机的改良，对于极具代表性的Au、Pd、Ni、Cu（金、钯、镍、铜）多镀层测量，相比以前机型，效率提高了2倍以上。

2. 对应超小型的芯片零部件的厚度测量（FT160s：FT160s通过新时开发的聚光导管，可以测量超小型芯片零部件（电容、电阻等）的电极部的镀层厚度测量。

3. 兼顾安全性和简便性：采用防止X射线泄露的密集型框架和大开口且可以方便开启和关闭的样品门，兼顾安全性和简便性。「FT160s」可以对应600×600mm的大型线路板。